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金屬材料單軸拉伸蠕變試驗是評估金屬材料力學(xué)性能的常用試驗方法哪些領域。該試驗的原理是在控制試樣的溫度和濕度的條件下設備製造，通過持續(xù)的單向拉伸作用于試樣體系，以模擬該材料在實際應(yīng)用中的疲勞循環(huán)載荷規定。下面小編來為大家分享一下金屬材料單軸拉伸蠕變試驗設(shè)備怎么選可持續？有哪些值得注意的？

一示範推廣、金屬材料單軸拉伸蠕變試驗設(shè)備要求如下：

1情況、試驗機

試驗機應(yīng)能提供施加軸向試驗力并使試樣上產(chǎn)生的彎矩和扭矩最小。試驗前應(yīng)對試驗機進行外觀檢查以確保試驗機的加力桿大大縮短、夾具堅持好、萬向節(jié)和連接裝置都處于良好狀態(tài)開放要求。

試驗力應(yīng)均勻平穩(wěn)無震動地施加在試樣上。

試驗機應(yīng)遠離外界的震動和沖擊構建。試驗機應(yīng)具有試樣斷裂時將震動降到最小的緩沖裝置緊密相關。試驗機至少應(yīng)符合GB/T168252中1級試驗機的要求為了保證試驗機和夾具能夠?qū)υ嚇訙蚀_地施加試驗力,應(yīng)定期校準試驗機的力值和加載同軸度。

試驗機的加載同軸度應(yīng)不超過10%優勢領先。試驗設(shè)備兩次校準/檢定的時間間隔依據(jù)設(shè)備類型試驗條件經驗分享、維護水平和使用頻次而定,除非另有規(guī)定,校準/檢定周期不超過12個月,試驗機的校準/檢定參考JJG276如果能夠證明試驗設(shè)備在更長的時間內(nèi)能夠滿足相關(guān)規(guī)定的要求,那么可以延長兩次校準/檢定之間的時間。
 

2新技術、伸長測量裝置

對于連續(xù)試驗,應(yīng)使用引伸計測量試樣的伸長,引伸計系統(tǒng)應(yīng)滿足GB/T12160中1級或優(yōu)于1級準確度的要求或者能夠滿足相同準確度要求的其他設(shè)備」矂撁篮?？梢圆捎弥苯影惭b在試樣上的引伸計趨勢，也可以采用非接觸式的引伸計(例如:光學(xué)或激光引伸計)。

建議引伸計校準的范圍應(yīng)包含預(yù)期的蠕變應(yīng)變量預判。

引伸計應(yīng)每年校準一次，除非試驗時間超過1年。如果預(yù)期試驗時間超過校準周期調解製度，應(yīng)在蠕變試驗開始前對引伸計重新校準深入。

引伸計的標距不應(yīng)小于10mm。

引伸計應(yīng)該可以測量試樣單側(cè)或雙側(cè)的伸長,雙側(cè)引伸計作為優(yōu)先選擇覆蓋範圍。

在報告中應(yīng)注明所使用的引伸計類型(例如;單側(cè)一站式服務、雙側(cè)軸徑向)。當使用雙側(cè)引伸計測量試樣伸長時前沿技術，應(yīng)報告平均伸長支撐作用。
 

注1：對于連續(xù)變試驗,引伸計直接安裝在試樣的平行部分依據(jù)引伸計Le測量變伸長率。

當引伸計安裝在試樣的夾持末端來測量蠕變伸長時逐漸完善，未端的外形和尺寸應(yīng)保證能夠在試樣的參考長度內(nèi)完全準確的測定伸長。依據(jù)參考長度 L，測量蠕變伸長率高效化。

通常自動化，引伸計的標距應(yīng)盡可能地接近參考長度。為了提高測量準確度,標距應(yīng)盡可能的大長期間。

注2：如果僅僅測量變斷裂后的殘余伸長或規(guī)定時間的殘余伸長新的力量，則不必使用引伸計對于不連續(xù)試驗,試樣卸載后冷卻到室溫,采用合適的工具測量標距長度的殘余伸長。測量工具的精度應(yīng)達到 0.01 AL異常狀況，或0.01 mm,取其大者說服力。完成測量后,試樣可以再次升溫和加載。

注3：對于采用短標試樣的小應(yīng)變試驗,例如應(yīng)變小于等于1%,需要選用足夠分力的測量裝置當使用鎳基合金材料的引伸計時應(yīng)注意避免虛假的負蠕變更多可能性。
 

3深刻變革、加熱裝置

3.1 加熱裝置溫度的允許偏差

采用加熱裝置加熱試樣至規(guī)定溫度（T）高效。規(guī)定溫度（T）和顯示溫度（T）之間的允許偏差和試樣長度方向上允許的最大偏差見表2。

對于規(guī)定溫度超過1100℃的試驗至關重要，應(yīng)由雙方協(xié)商確定溫度的允許偏差質量。

顯示溫度（T）是在試樣的平行段表面測得，應(yīng)考慮所有來源的誤差并對系統(tǒng)誤差進行修正表示。

注：允許采用加熱爐各個加熱區(qū)間溫度的間接測量方式來代替直接測量試樣表面溫度不久前，這種方式必須證實能滿足上述偏差的要求。

如果使用引伸計質生產力，則應(yīng)考慮某種方法保護爐外的引伸計部分不會由于爐外空氣溫度的波動而對長度測量產(chǎn)生太大影響機構。

讀取引伸計測量數(shù)值時，試驗機環(huán)境溫度波動不應(yīng)超過士3℃提升行動。

對于不連續(xù)試驗更適合，標距測量時的環(huán)境溫度波動不應(yīng)超過±2℃。如果超過這個范圍交流，應(yīng)考慮環(huán)境溫度變化帶來的影響引人註目。
 

3.2 溫度測量

3.2.1 總則

溫度顯示裝置的分辨力至少應(yīng)為0.5℃，測溫裝置的準確度應(yīng)等于或優(yōu)于1℃溝通協調。
 

3.2.2 單頭試驗機

對于單頭試驗機拓展，試樣的平行長度小于或等于50mm的應(yīng)至少使用2支熱電偶。對于平行長度超過50 mm的試樣活動，應(yīng)至少使用3支熱電偶即將展開。任何情況下應(yīng)將熱電偶固定在試樣平行長度的兩端，如果使用3支熱電偶優勢與挑戰，應(yīng)在試樣平行長度的中段固定1支熱電偶集成應用。

如果證實加熱爐能夠使試樣上的溫度波動不超過3.1的規(guī)定，那么熱電偶的數(shù)量可以減少為1支問題分析。
 

3.2.3 多頭試驗機

對于多頭試驗機迎來新的篇章，建議每個試樣上至少固定1支熱電偶。如果只用一支熱電偶不負眾望，應(yīng)固定在試樣平行長度的中間位置共同學習。如果僅在爐內(nèi)安裝3支控溫?zé)犭娕迹仨氁谐浞值臄?shù)據(jù)證明每個試樣的溫度滿足3.1的要求推動並實現。

對于間接測溫裝置，要求有規(guī)律地測量每個加熱區(qū)間內(nèi)熱電偶與給定區(qū)間內(nèi)一定數(shù)量試樣上的溫度差值數(shù)據(jù)。對于溫度差的非系統(tǒng)部分更加完善，800℃以下不超過±2℃薄弱點、800℃以上不超過士3℃。
 

3.2.4 缺口試樣

缺口試樣的溫度測量應(yīng)滿足6.3.2.2或者6.3.2.3的要求精準調控。建議在缺口底部固定一支熱電偶效高。
 

3.2.5 熱電偶

熱電偶的測量端與試樣表面應(yīng)保持良好的熱接觸建設應用，并應(yīng)該屏蔽以避免熱源的直接輻射。爐內(nèi)電偶絲其余部分應(yīng)該有熱防護和電絕緣廣度和深度。

注：此條款不適用于間接測量裝置應用的因素之一。
 

3.3 熱電偶和測溫系統(tǒng)的校準

注：不同熱電偶的相關(guān)信息見附錄A。
 

3.3.1 熱電偶的校準/檢定

對于試驗時間較短（通常不超過500 h）的熱電偶至少應(yīng)每12個月校準/檢定一次日漸深入。對于試驗時間超過12個月的貴金屬熱電偶應(yīng)按以下要求校準/檢定：

————規(guī)定溫度小于等于600℃的每4年校準/檢定一次奮勇向前；

————規(guī)定溫度大于600℃而小于等于800℃的每2年校準/檢定一次；

————規(guī)定溫度大于800℃的每1年校準/檢定一次預期。

如果試驗時間超過校準/檢定周期的應(yīng)在試驗完成后立即校準/檢定經驗。如果熱電偶重新焊接，則應(yīng)在使用前再次校準/檢定加強宣傳。

應(yīng)對試驗溫度或者包含試驗溫度的典型區(qū)間對熱電偶的偏差進行標定善於監督。

如果能夠證明熱電偶的偏差不影響6.3.1中規(guī)定允許的溫度波動的，那么可以延長兩次校準/檢定之間的時間豐富內涵。

由于熱電偶污染造成化學(xué)成分變化導(dǎo)致的溫度漂移以及人為處置的物理損傷都會導(dǎo)致熱電偶輸出值的變化，這些變化應(yīng)該被記錄并且如果有要求應(yīng)該是可獲得的研究。

注1：溫度波動是由所使用的熱電偶類型以及在試驗溫度下的暴露時間決定的搶抓機遇。

如果熱電偶的漂移影響超出溫度的允許偏差，則應(yīng)提高校準/檢定的頻次或者通過熱電偶的顯示值對溫度進行修正去創新。

注2：熱電偶校準的相關(guān)信息參見附錄B結論。
 

3.3.2 溫度測量裝置的校準

溫度測量裝置（包括補償導(dǎo)線、接點體系、冷端足夠的實力、顯示器或記錄儀、數(shù)據(jù)線等）應(yīng)該按照可以追溯至溫度國際單位的校準方法進行校準提高。

如果可行全面闡釋，應(yīng)在相關(guān)溫度范圍內(nèi)對測溫裝置儀表按照JJG 617每年校準一次，校準結(jié)果應(yīng)在校準報告中給出結構。
 

3.4 加熱爐均溫帶的校準

加熱裝置的均溫帶應(yīng)按照JJG276進行校準適應性強。
 

附 錄 A

（資料性附錄）

不同熱電偶的相關(guān)信息

在JJG141和JJG351中給出了關(guān)于不同類型熱電偶的資料，GB/T 4989給出了熱電偶用補償導(dǎo)線的信息競爭力所在。

對于使用的貴金屬熱電偶能力建設，擇優(yōu)使用S或R型熱電偶，建議使用溫度大于等于400℃先進的解決方案。

對于廉價的K型熱電偶宜在低于400℃溫度下使用基礎，或高溫下、時間小于1000h的情況下使用研究進展，并且不宜重復(fù)使用要素配置改革。

對于廉價的N型熱電偶宜在低于600℃溫度下使用，或高溫下、時間小于3000h的情況下使用設計標準，并且不宜重復(fù)使用深度。

熱電偶在校準周期內(nèi)的溫度漂移不宜超過以下要求：

——當溫度小于等于600℃時為士1℃；

——當溫度小于等于800℃經過，大于600℃時為士1.5℃帶來全新智能；

——當溫度小于等于1100℃，大于800℃時為士2℃核心技術體系。

對于貴金屬熱電偶自主研發，在以下的校準周期內(nèi)這些要求通常可以滿足：

——當溫度小于等于600℃時為4年新產品；

一—當溫度小于等于800℃意向，大于600℃時為2年；

——當溫度小于等于1100℃有力扭轉，大于800℃時為1年調解製度。
 

附 錄 B

（資料性附錄）

熱電偶校準方法

對于熱電偶的校準，推薦兩種方法形式。兩種方法的目的都是為了保證在校準溫度下熱電偶顯示的電動勢盡可能地與GB/T 16839.1在該溫度下的參考表保持一致（必要時對所有系統(tǒng)誤差進行修正）覆蓋範圍。兩種方法都使用標準熱電偶，這可直接溯源到國家標準功能。新的熱電偶應(yīng)滿足GB/T16839.2中的1級要求或相同級別前沿技術。測溫裝置的校準應(yīng)該分開進行或在熱電偶校準期間進行。

第一種方法是基于熱電偶的原位校準積極性，即熱電偶的校準是在實際使用的爐子或熱電偶插入至校準爐中至相同的深度且沿?zé)犭娕冀z的溫度梯度也相同深入交流。原位校準確定的誤差用于修正指定熱電偶溫度。如果誤差超過與插入深度相關(guān)的不確定度關(guān)聯(lián)的誤差極限性能，則熱電偶廢棄動力。在熱電偶校準過程中宜觀察并盡量減小由于不同的埋入深度造成的參考熱電偶的漂移。

第二種方法是在校準爐中將熱電偶埋入與試驗爐相近的深度基地。在校準時影響力範圍，如果誤差超出實驗室的允差（必須包括插入深度的影響）時，應(yīng)剪去熱電偶末端并重新焊接和/或退火后約定管轄，再重新校準雙向互動。如果再次校準后，仍然超出校準允差新創新即將到來，則熱電偶廢棄生產效率。