銅箔是覆銅板(CCL)及印制電路板(PCB)制造的重要的材料雙重提升。在當今電子信息產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展中約定管轄，銅箔被稱為電子產(chǎn)品信號與電力傳輸互動式宣講、溝通的“神經(jīng)網(wǎng)絡”改善。于是研究成果，對于我們檢測設備行業(yè)分享，對銅箔物理性能的測試方法的探討也能幫助我們更好的完善硬件和軟件設計重要手段。
抗拉強度和延展率是銅箔的兩個重要的物理性能穩中求進。對于這些性能的測試方法橫向協同，涉及到的標準主要有IPC-TM-650 2.4.18.1A、ASTM E345-2016再獲、GB/T 5230-1995穩定性、GB/T 5187-2008以及GB/T 228.1。以下便是對這些標準的一些簡要說明與分析更讓我明白了。
目前溝通協調，最常用的檢測標準是IPC-TM-650 2.4.18.1A，該標準是專門針對印制電路板的銅箔而制定的提供堅實支撐。其檢測方法及要點如下：
I. 銅箔厚度范圍0.05mm~0.1mm活動；
II. 樣品為條狀或者帶頭試樣，橫向和縱向各5個創造更多，其中條狀樣品尺寸：13mm×150mm還不大，帶頭試樣尺寸見ASTM E345 A型試樣(在后面會具體提到)；
III. 標距為50mm連日來，夾頭移動速率：每分鐘0.05mm/mm~0.5mm/mm（此為應變速率保障性，具體試驗速率需根據(jù)夾頭間的距離進行換算）；
IV. 樣品裁切后需在125±5℃下烘烤4~6h信息化技術；
V. 判定失效的情況：樣品有明顯的缺陷導致斷裂領先水平；結果偏離平均值。
銅箔拉伸測試用試驗機
該方法提供了大部分的測試參數(shù)責任製，但是效率，有三點寫得不夠明確：其一是數(shù)值修約；其二是夾頭間距雙重提升，這也影響到測試速率的選擇增強，因為實際的測試速率是通過夾頭間距乘以應變速率得到；其三是失效的判定結果，即怎樣的測試結果被判定為有效戰略布局，雖然明確規(guī)定標距為50mm，但標線的位置沒有明確的說明規則製定，也就是說講道理，對斷裂的位置沒有特別嚴格的要求，在實際測試中求索，斷裂的位置往往是在銅箔最薄的那部分置之不顧，未必斷裂在中間才是準確的。
上面提到的了ASTM E345中的試樣A性能穩定，試樣規(guī)格如下：
試樣A的規(guī)格尺寸
總長度L≥200mm ；
標距G=50.0±0.1mm規模；
中間平行長度A≥60數字化；
兩頭的長度B≥50mm新格局；
窄部分寬度12.5±0.25mm。
在這里開展攻關合作，除掉兩端夾持部分B對外開放，中間部分就相當于夾頭之間的間距，約為總長度的一半組建，中間平行長度A≥60mm用的舒心。筆者認為，如果參考這個試樣的夾頭間距的選擇深入交流研討，那么模式，不帶頭的條狀試樣的夾頭間的距離可以在60mm~75mm之間。
ASTM E345-16 的全稱是金屬箔拉伸測試的標準試驗方法集聚效應，對比IPC-TM-650 2.4.18.1A貢獻，主要參數(shù)如下：
I. 該方法可以用于測試厚度≤0.2mm的金屬箔；
II. 兩種試樣：A型和B型提升。A型試樣上面已經(jīng)提到過持續，B型試樣為不帶頭試樣：總長度≥230mm，寬度12.5mm，標距125mm高品質，推薦夾頭之間的距離為125mm，這樣可以直接通過斷裂后夾頭間的位移來計算伸長率互動講；
III. 測試速率：不測定屈服時統籌，應變速率0.06~0.5mm/mm/min；測試屈服時的特點，應變速率0.002~0.010mm/mm/min高質量；
IV. 修約：強度值修約至1MPa，斷后伸長率修約至0.5%適應性。
該方法是針對金屬箔的性能測試迎難而上，并非專門針對銅箔而定，并沒有提到裁切后的烘烤要求激發創作。但該標準對于失效的判定有明確的說明：樣品有明顯的缺陷或劃痕更高效；樣品表面加工不良；樣品尺寸不符合要求探索；機器原因導致樣品破裂；測試方法不正確；標距外斷裂重要作用；當使用試樣A測量伸長率時堅持先行，樣品斷裂位置不在標距中間1/2范圍內。也就是說工藝技術，使用A型試樣時發揮作用，如果夾頭之間的距離為80mm，那么斷裂位置在中間40mm的范圍內結果是有效的。
在GB/T 5230-1995 電解銅箔 的附錄D中十分落實，對電解銅箔測試的要求如下：
I. 試樣尺寸：長200±0.5mm規模，寬15±0.25mm，試樣數(shù)量：4個（橫作用、縱各兩個）；
II. 標距50mm，標線距離夾頭的距離不低于3mm銘記囑托；
III. 夾頭間距離125mm事關全面，試驗機夾頭速度：50mm/min；
IV. 試驗溫度：20±10℃擴大；
V. 結果表示：取4個實驗結果的算術平均值作為實驗結果非常完善。
該方法簡要說明了結果無效的判定方法：試樣在標距外拉斷；操作不當（如樣品夾偏）讓人糾結；試樣本身缺陷不斷完善；記錄有誤或其他原因造成數(shù)據(jù)有偏差。值得一提的是全面革新，這里明確提出了標線距離夾頭的距離不低于3mm勞動精神，而沒有明確規(guī)定標線一定要畫在中間部分。因此方便，可以認為明顯，斷裂位置距離夾頭不低于3mm是有效的。
在GB/T 228.1-2010的附錄B中基石之一，對于厚度為0.1mm~3mm薄板和薄帶的試樣類型有這樣的規(guī)定：對于寬度等于或小于20mm的不帶頭試樣基礎上，除非產(chǎn)品中另有規(guī)定，原始標距L0應等于50mm行業分類，兩夾頭之間的自由長度應等于L0+3b0 預下達。也就是說，假如試樣寬度為12.5mm應用領域，那么夾頭之間的距離應該為87.5mm創新為先。該尺寸與IPC-TM-650 2.4.18.1A中提到的銅箔尺寸相近，如果參考該標準統籌推進，夾頭之間的距離可以選擇50＋13×3=89mm.在數(shù)值修約方面行業內卷，該標準中提到：強度性能值修約至1MPa，除屈服點延伸率以外的其他延伸率修約至0.5%，這點與ASTM E345-16以及ISO 6892-1:2009中的修約標準是一致的重要手段，我們當前也是選擇這樣的修約方式。
在GB/T 5187-2008 銅和銅合金箔材中提到，銅箔拉伸試驗方法選擇GB/T 228中規(guī)定落地生根，試樣類型選擇P02型占，該方法不常用技術的開發，這里不再贅述成效與經驗。
通過以上分析，對于銅箔拉伸夾頭之間距離的選擇以及結果的判定健康發展，仍然在不同方法間有著一定的差異提供了有力支撐。對于在印制線路板行業(yè)常用的IPC-TM-650 2.4.18.1A的標準，目前在應用上這兩點的自由度較大堅實基礎，我們覺得在后續(xù)的標準版本更新中應把這兩點進行必要的補充說明積極。
【參考文獻】
[1]IPC-TM-650 2.4.18.1A Tensile Strength and Elongation, In-House Plating.
[2]ASTM E345-16 Standard Test Methods of Tension Testing of Metallic Foil.
[3]GB/T 5230-1995 電解銅箔.
[4]GB/T 228.1-2010 金屬材料 拉伸試驗 第1部分：室溫試驗方法.
[5]GB/T 5187-2008 銅和銅合金箔材.
來源：天氏庫力 發(fā)布日期
2020-09-21 瀏覽：
