銅箔是覆銅板(CCL)及印制電路板(PCB)制造的重要的材料預期。在當今電子信息產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展中各有優勢，銅箔被稱為電子產(chǎn)品信號與電力傳輸品率、溝通的“神經(jīng)網(wǎng)絡”拓展應用。于是動手能力，對于我們檢測設備行業(yè)行業內卷，對銅箔物理性能的測試方法的探討也能幫助我們更好的完善硬件和軟件設計互動式宣講。
抗拉強度和延展率是銅箔的兩個重要的物理性能效高性。對于這些性能的測試方法，涉及到的標準主要有IPC-TM-650 2.4.18.1A自動化、ASTM E345-2016提升、GB/T 5230-1995、GB/T 5187-2008以及GB/T 228.1不折不扣。以下便是對這些標準的一些簡要說明與分析支撐能力。
目前，最常用的檢測標準是IPC-TM-650 2.4.18.1A高效利用，該標準是專門針對印制電路板的銅箔而制定的特征更加明顯。其檢測方法及要點如下：
I. 銅箔厚度范圍0.05mm~0.1mm；
II. 樣品為條狀或者帶頭試樣講理論，橫向和縱向各5個的可能性，其中條狀樣品尺寸：13mm×150mm，帶頭試樣尺寸見ASTM E345 A型試樣(在后面會具體提到)服務為一體；
III. 標距為50mm問題，夾頭移動速率：每分鐘0.05mm/mm~0.5mm/mm（此為應變速率，具體試驗速率需根據(jù)夾頭間的距離進行換算）全會精神；
IV. 樣品裁切后需在125±5℃下烘烤4~6h系統穩定性；
V. 判定失效的情況：樣品有明顯的缺陷導致斷裂拓展基地；結果偏離平均值。
銅箔拉伸測試用試驗機
該方法提供了大部分的測試參數(shù)實力增強，但是不合理波動，有三點寫得不夠明確：其一是數(shù)值修約；其二是夾頭間距分析，這也影響到測試速率的選擇表示，因為實際的測試速率是通過夾頭間距乘以應變速率得到；其三是失效的判定非常激烈，即怎樣的測試結果被判定為有效競爭力所在，雖然明確規(guī)定標距為50mm，但標線的位置沒有明確的說明領域，也就是說溝通機製，對斷裂的位置沒有特別嚴格的要求，在實際測試中註入新的動力，斷裂的位置往往是在銅箔最薄的那部分領先水平，未必斷裂在中間才是準確的。
上面提到的了ASTM E345中的試樣A雙重提升，試樣規(guī)格如下：
試樣A的規(guī)格尺寸
總長度L≥200mm 戰略布局；
標距G=50.0±0.1mm；
中間平行長度A≥60表現明顯更佳；
兩頭的長度B≥50mm狀態；
窄部分寬度12.5±0.25mm。
在這里指導，除掉兩端夾持部分B廣泛認同，中間部分就相當于夾頭之間的間距，約為總長度的一半流動性，中間平行長度A≥60mm鍛造。筆者認為，如果參考這個試樣的夾頭間距的選擇持續創新，那么改善，不帶頭的條狀試樣的夾頭間的距離可以在60mm~75mm之間。
ASTM E345-16 的全稱是金屬箔拉伸測試的標準試驗方法合理需求，對比IPC-TM-650 2.4.18.1A是目前主流，主要參數(shù)如下：
I. 該方法可以用于測試厚度≤0.2mm的金屬箔充分發揮；
II. 兩種試樣：A型和B型高質量。A型試樣上面已經(jīng)提到過，B型試樣為不帶頭試樣：總長度≥230mm選擇適用，寬度12.5mm管理，標距125mm設計，推薦夾頭之間的距離為125mm，這樣可以直接通過斷裂后夾頭間的位移來計算伸長率覆蓋範圍；
III. 測試速率：不測定屈服時優化程度，應變速率0.06~0.5mm/mm/min；測試屈服時奮勇向前，應變速率0.002~0.010mm/mm/min不斷豐富；
IV. 修約：強度值修約至1MPa，斷后伸長率修約至0.5%組建。
該方法是針對金屬箔的性能測試各有優勢，并非專門針對銅箔而定，并沒有提到裁切后的烘烤要求重要的意義。但該標準對于失效的判定有明確的說明：樣品有明顯的缺陷或劃痕持續；樣品表面加工不良；樣品尺寸不符合要求再獲；機器原因?qū)е聵悠菲屏旬a品和服務；測試方法不正確；標距外斷裂體驗區；當使用試樣A測量伸長率時增多，樣品斷裂位置不在標距中間1/2范圍內(nèi)。也就是說有望，使用A型試樣時共享應用，如果夾頭之間的距離為80mm，那么斷裂位置在中間40mm的范圍內(nèi)結果是有效的標準。
在GB/T 5230-1995 電解銅箔 的附錄D中示範推廣，對電解銅箔測試的要求如下：
I. 試樣尺寸：長200±0.5mm，寬15±0.25mm即將展開，試樣數(shù)量：4個（橫大幅增加、縱各兩個）；
II. 標距50mm傳承，標線距離夾頭的距離不低于3mm等特點；
III. 夾頭間距離125mm，試驗機夾頭速度：50mm/min多種；
IV. 試驗溫度：20±10℃將進一步；
V. 結果表示：取4個實驗結果的算術平均值作為實驗結果。
該方法簡要說明了結果無效的判定方法：試樣在標距外拉斷發展成就；操作不當（如樣品夾偏）成就；試樣本身缺陷；記錄有誤或其他原因造成數(shù)據(jù)有偏差。值得一提的是研究進展，這里明確提出了標線距離夾頭的距離不低于3mm無障礙，而沒有明確規(guī)定標線一定要畫在中間部分。因此快速融入，可以認為認為，斷裂位置距離夾頭不低于3mm是有效的。
在GB/T 228.1-2010的附錄B中增強，對于厚度為0.1mm~3mm薄板和薄帶的試樣類型有這樣的規(guī)定：對于寬度等于或小于20mm的不帶頭試樣重要意義，除非產(chǎn)品中另有規(guī)定，原始標距L0應等于50mm更加廣闊，兩夾頭之間的自由長度應等于L0+3b0 不斷完善。也就是說，假如試樣寬度為12.5mm方便，那么夾頭之間的距離應該為87.5mm基礎上。該尺寸與IPC-TM-650 2.4.18.1A中提到的銅箔尺寸相近，如果參考該標準應用領域，夾頭之間的距離可以選擇50＋13×3=89mm.在數(shù)值修約方面保持競爭優勢，該標準中提到：強度性能值修約至1MPa，除屈服點延伸率以外的其他延伸率修約至0.5%發展機遇，這點與ASTM E345-16以及ISO 6892-1:2009中的修約標準是一致的長效機製，我們當前也是選擇這樣的修約方式。
在GB/T 5187-2008 銅和銅合金箔材中提到全技術方案，銅箔拉伸試驗方法選擇GB/T 228中規(guī)定分享，試樣類型選擇P02型，該方法不常用信息化，這里不再贅述方式之一。
通過以上分析，對于銅箔拉伸夾頭之間距離的選擇以及結果的判定新型儲能，仍然在不同方法間有著一定的差異創新能力。對于在印制線路板行業(yè)常用的IPC-TM-650 2.4.18.1A的標準，目前在應用上這兩點的自由度較大範圍，我們覺得在后續(xù)的標準版本更新中應把這兩點進行必要的補充說明求得平衡。
【參考文獻】
[1]IPC-TM-650 2.4.18.1A Tensile Strength and Elongation, In-House Plating.
[2]ASTM E345-16 Standard Test Methods of Tension Testing of Metallic Foil.
[3]GB/T 5230-1995 電解銅箔.
[4]GB/T 228.1-2010 金屬材料 拉伸試驗 第1部分：室溫試驗方法.
[5]GB/T 5187-2008 銅和銅合金箔材.
來源：天氏庫力 發(fā)布日期
2020-09-21 瀏覽：
